徕卡半导体应用案例:光通信模块中 DBR 结构的高精度尺寸测量
在高速光通信模块中,核心光学元件的尺寸精度直接影响器件性能与长期稳定性。本案例展示了徕卡显微系统如何帮助一家从事单光子探测器(SNSPD)研发和量产的客户,对其关键结构——**分布式布拉格反射镜(DBR)**进行高精度、无损的直径与同心度测量。
什么是 DBR?(Distributed Bragg Reflector)
**分布式布拉格反射镜(DBR)**由多层折射率不同的介质交替堆叠组成,具有对特定波长的高反射特性。
在 单光子探测器(SNSPD) 中,DBR 用于提升对 1550 nm 通信波段信号的反射与响应效率,是实现高灵敏度探测的关键结构。

检测难点与挑战
光斑极小,成像难度高
客户使用约 9 μm 光斑的 1550 nm 自发红外激光。如此微小的发光区域对系统的 光学分辨率、噪声控制、对比度提出极高要求。
2. 红外光需穿透硅片,成像条件严格
红外信号需要穿透 0.5 mm 厚硅衬底后才能被 CCD 获取。硅对红外光存在吸收与散射,传统可见光明场成像难以得到清晰边界。
3. 实测验证:暗场红外是最佳方案
在暗场红外模式下,DBR 边缘对比度显著增强,可获得满足尺寸测量要求的清晰图像。
(凭借徕卡光学系统的高兼容性,仅需常规镜筒与物镜即可完成高质量红外成像,无需额外复杂改装。)
测量设备与参数
测量结果与客户反馈
通过徕卡系统获取的图像可清晰呈现 DBR 边缘,直径与同心度测试数据稳定可靠。经客户验证,该测量结果达到其工艺要求,并在后续测试流程中被正式采用。