荧光寿命成像显微术 (FLIM) 是一种利用荧光染料固有特性的成像技术。 除了具有特有的发射光谱外,每个荧光分子还有特有的寿命,它反映了荧光基团在发射光子之前处于激发态的时间。 除了标准的荧光强度测量外,寿命分析还可以提供其他信息。
过去,寿命成像一直是一种缓慢、复杂的专业化技术。 只有经验丰富的显微镜专家或物理学家才会使用这种技术。 徕卡显微系统公司处于当今荧光寿命成像技术的前沿。 我们的系统使寿命成像比以往更快、更易于使用,将这项技术的各种优势引入日常的共聚焦成像实验中。
通过荧光寿命信息改进共聚焦成像效果
荧光寿命成像提供了额外的信息,有助提高共聚焦成像的质量。 它非常适合用于区分荧光发射光谱重叠的荧光探针,或消除不需要的背景荧光信号。
FLIM 是一种用于测量和量化成像数据的重要应用。 由于寿命信息与荧光基团浓度无关,因此它非常适合用于功能成像。 功能成像超越了传统的分子样本位置和浓度记录,通过该技术可以进一步研究分子功能、相互作用及其环境。
此外,FLIM 还支持多种新的成像应用,例如使用生物传感器研究细胞的微环境或基于样本的固有荧光特性进行成像。
请参考此应用文档,详细了解 FLIM 及其在 SP8 FALCON 系统中的成像应用。
设立寿命成像标准
随着快速且完全整合的寿命成像技术 SP8 FALCON 的推出,徕卡显微系统公司为未来的寿命成像树立了标杆。 徕卡显微系统公司的 SP8 FALCON 系统荣获了著名的百大科技研发奖。 此奖项表彰了该解决方案使用的创新的寿命成像方法。
徕卡显微系统公司的 FLIM 解决方案让您能够利用荧光寿命的强大特性,从共聚焦成像实验的每一个样本中提取新的信息维度。 使用 FALCON 研究细胞生理学和探索细胞动力学。 利用 STELLARIS 中的 Tausense 技术可以立即获得功能信息,例如代谢状态、酸碱度和离子浓度。
使用我们简化的集成平台,您可以在实验中获得新的视角,从而获得对实验问题的新解答。
视频1 小鼠胚胎病理切片的FALCON快速荧光寿命成像
视频2 兔子舌头病理切片的FALCON快速荧光寿命成像
激光共聚焦成像是一项非常成熟的技术,随着光谱式检测方法成为共聚焦成像的主流,对于多色成像/拆分也愈发成熟,利用不同荧光染料的发射光谱的不同来进行多通道拆分能够满足大多数情况下的需求,但是由于存在一些发射光谱大幅重叠的荧光标记组合和一些自发荧光信号的存在,有时候利用荧光强度还是不能够很好的拆分多荧光标记。此时除了利用智能分析软件来进行基于荧光强度拆分的方法之外,还可以利用荧光寿命来进行成像。荧光寿命是荧光物质的固有属性,与染料浓度、激发光强度等因素无关,取决于染料内在性质以及所处的微环境,因此相比于荧光强度成像,荧光寿命成像会更加稳定,并能同步获取更多维度的数据信息。
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