离子减簿仪 Leica EM RES102

使用徕卡离子减簿仪EM RES102,使您的样品具备最高水平的灵活性,具有轻薄、清洁、抛光、切割的坡度和结构。独特的离子束研磨系统结合了在一个单工作台面单元上制备TEM、SEM和LM样品的特点。

各种样品架可以进行多元化应用。除了高能量的离子铣工艺,徕卡离子减簿仪EM RES102也可适于采用低离子能量处理非常柔软的样本。

徕卡离子减簿仪EM RES102

高效并节约成本

  •  TEM,SEM和LM应用功能集于一体

  •  SEM样品制备最大可达25mm样品直径

  •  TEM样品制备获得的薄区大,有效提高了TEM样品制备效率

  •  局域网功能方便远程操控

安全

     离子源和样品运动马达驱动,程序化控制,因而可获得重复性制样结果

保持样品原生态

     LN2样品台使得温度敏感型样品可在优化条件下进行离子研磨


操作简便

  •  内置应用参数库  

  •  帮助文件帮助初学者以及对设备进行维护


徕卡显微系统官方客服收到您的信息后,将委派徕卡销售工程师或徕卡官方渠道授权经销商为您提供产品准确报价。
产品型号页面报价
徕卡显微系统官方客服收到您的信息后,将委派徕卡销售工程师或徕卡官方渠道授权经销商为您提供产品准确报价。
RELATED PRODUCTS
相关产品
新版 EM TIC 3X 恪守我们的格言:与用户合作,使用户受益”,以注重实用性的方式将性能和灵活性理想融合。 最新的 EM TIC 3X 切割速度翻倍,根据您的应用需求提供五种不同的载物台供您选择,实用性得到进一步提升。
精研一体机 Leica EM TXP 徕卡EM TXP 标靶面制备系统具有定点修块抛光功能,是用锯,磨,铣削,抛光样品后,供扫描电镜,透射电镜,和LM技术检测。 带有一体化体视镜,用于精确定位及对较细微难以观察的目标位置进行样品处理时观察;使用样品旋转手柄,可以改变样品观察角度,0°-60°可调,或者垂直于样品前表面90°观察,可利用目镜刻度标尺测量距离。
wechat
欢迎扫码关注徕卡官方微信,更多显微技巧,行业资讯尽在掌握
close
客服热线
4006307752
在线咨询
工作日9-17点
提交需求
24小时内反馈