徕卡DM12000M工业显微镜 Leica DM12000 M 工业显微镜

徕卡DM12000M全新的光学设计,可以提供宏观模式快速初检,以及倾斜紫外光路功能(OUV, 倾斜紫外观察模式) 不单提升了分辨率还提高了检查12英寸(300毫米)硅片的产能。

徕卡显微系统官方客服收到您的信息后,将委派徕卡销售工程师或徕卡官方渠道授权经销商为您提供产品准确报价。

徕卡DM12000M 12英寸晶圆检测显微镜可选配荧光接口和光源,用于检测RGB排列和光刻胶的残留检测等行业应用

最新的 LED 照明技术 一体化设计并整合在显微镜上. 低热辐射和机身内一体化技术确保了最理想的机身外空气流动状态。低能耗的节电设计大大延长了使用寿命,符合绿色环保的理念。

一键式的操控设计使用户可以轻易地完成倍率转换和相关的照明和相衬效果。

高效率检验系统

晶片或 LCD 和TFT的检验、过程控制和缺陷分析必须快速、精确并符合人体工学。LeicaDM12000M光学检验显微镜提供了一个创新而性价比高的系统解决方案,帮助客户充满信心地应对现在和未来的手动检验挑战。除了视场和高分辨率光学部件,这些系统还采用了高度人性化的设计和全内置的LED照明,可以从不同角度照亮样品。

人性化设计使质量更高

人性化设计让用户能够舒适地工作,提高效率并改善工作质量。Leica DM12000M采用特殊设计,可以为长时间使用显微镜的用户提供舒适感,并使操作更直观,便于适应不同用户的显微镜操作水平

照明LED!带来更整洁的环境

Leica DM12000 M 内置的 LED 照明优化了气流,有助于创造一个更整洁的洁净室。使用寿命长和耗电量低的 LED 还可以降低拥有成本

更大的视场更快速的检验

Leica DM12000 M 集成的宏观模式为您提供了4倍于常规扫描物镜的视场。看得更多也就意味着更快的效率

各个角度均可获得高分辨率

新的 0blique UV(0UV) 模式组合了斜射照明和紫外线,让您可以从任意角度以高分辨率查看样品-并提高了检验结果的精确度。

光学 - 图像质量

手动检验时要想在很短的时间内获得快速而可靠的结果,显微镜的光学性能至关重要。在Leca DM12000M上,徕卡显微系统有限公司开发了一系列创新功能,以一种全新方式为操作者提供支持。

人体工学 - 整洁的设计

Leica DM12000M 检验显微镜让日常工作变得尽可能舒适和轻松。使用这些专为检验微电子零部件设计的显微镜,只需一会就可以根据操作者的座高、姿势、臂长和手的大小调节好显微镜。使用显微镜从未如此舒适,从而实现了快速而精确的检验工作。

满足高标准

保护您的投资和样品

Leica DM12000M 采用的创新解决方案较其它检验显微镜,更能展现徕卡的光学和机械性能,我们还听取客户的意见集成了一个创新的服务概念、ESD保护以及更多其它措施,让您能够符合工业标准。

DM12000M 研究级数字式大机台显微镜3D演示模型

  • 3D模型文件较大,加载速度与您当前的网络环境相关,请耐心等待加载完成
  • 因生产批次和模块配置差异,模型和真机可能存在细节差异
  • 如需获得更加逼真的3D体验,可使用微信扫描下方二维码,关注“徕卡显微系统”官方微信,点击底部菜单徕卡学院>线上体验中心,即可进入徕卡虚拟体验中心小程序

RELATED PRODUCTS
相关产品
在微电子和半导体行业中,检验、过程控制或缺陷和故障分析的速度至关重要。检测缺陷的速度越快,您做出响应的速度也就越快。 视场宽敞 30% DM3 XL 检验系统凭借大视场帮助您的团队更快地识别缺陷,提高您的收益率。充分利用独特的宏观物镜,视场宽敞 30%。
徕卡DM12000M全新的光学设计,可以提供宏观模式快速初检,以及倾斜紫外光路功能(OUV, 倾斜紫外观察模式) 不单提升了分辨率还提高了检查12英寸(300毫米)硅片的产能。 最新的 LED 照明技术 一体化设计并整合在显微镜上. 低热辐射和机身内一体化技术确保了最理想的机身外空气流动状态。低能耗的节电设计大大延长了使用寿命,符合绿色环保的理念。 一键式的操控设计使用户可以轻易地完成倍率转换和相关的照明和相衬效果。
徕卡 DM8000 M 提供了全新的光学设计,如理想的 宏观检查模式 或者倾斜紫外光 (OUV, 随检UV 选择) 不但提高了分辨能力,同时也增加了观察 8’’/200 毫米直径大样品 时的产量。
RELATED DATA
相关资料
2021年02月07日 16:24
印刷电路板(PCB)和电子制造 无论您是设备制造商还是供应商,徕卡显微系统公司都可以提供符合您需求的PCB检测显微镜和成像解决方案。 我们希望帮助您在PCB和电子元件制造工作中快速准确地进行检测、返工、分析和组装。 为了表明符合既定的技术指标,必须始终进行可靠的图像记录。 您可能还需要 可辅助开发新PCB和组件的成像解决方案。 徕卡显微系统公司的解决方案可以帮助您满足这些需求。 半导体晶圆加工、集成电路封装、集成电路组装和测试 徕卡显微系统公司的定制化、模块化成像解决方案可帮助供应商和设备制造商在晶圆加工、集成电路封装、集成电路组装和测试中快速而精确地进行检测和分析。 证明在半导体器件制造过程中符合既定规范对于确保可靠性至关重要。 为了证明已达到生产优质半导体器件所要求的洁净度和最低缺陷率,准确的图像记录必不可少。 但是,对尖端、高性能技术的开发需求是源源不断的,因此这些成像系统也预计会对研发起到促进作用。
RELATED TECHNOLOGY
相关技术前沿
2022年10月26日 14:41
光学显微镜旨在放大肉眼不可见的物体。为此需要采用高品质光学器件来获得优秀的分辨率。但是,所有光学组件都会对光路中的光线带来负面的影响,最终导致像差。本文将重点介绍此过程中涉及的光学元件及其物理参数。在此基础上,本文对减少像差的方法原理进行了一次历史概述。结果表明,将显微镜看作一个整体系统有助于协调其各个组件并获得最佳微观结果。
2022年05月09日 15:51
荧光是George Gabriel Stokes于1852年首次报道的一种现象。他观察到萤石在紫外线照射后开始发光。荧光是光致发光的一种形式,是指一种材料被光照射后会发射出光子。发射光的波长比激发光更长。这种效应又称为斯托克斯位移。
2021年11月24日 10:46
工作中要做到佳,人们必须拥有健康的身体:这样可以在较长的时间内更加专注、更有动力和更高的效率。符合人体工程学设计的工作场所有利于身体健康,符合人体工程学的设计对工作结果有直接的影响,减少了患者住院时间并提高了工作效率。因此,人体工程学配件的支出被可能节省的费用和工作效率的提高所抵消。在决定购买人体工程学配件时,决策者需要的不仅仅是常识——他们更需要统计数据。来自奥地利Röthis的理疗医师John Ludescher提供了有关该主题的信息。
2021年11月12日 10:12
在试图区分显微镜下观察到的样本细节时,数值孔径(缩写为‘NA’)是一个重要考虑因素。NA是一个没有单位的数,与透镜收集的光角度有关。在计算NA(见下文)时还考虑了介质的折射率,通过将载玻片或细胞培养容器的折射率与浸没介质相匹配就可以分辨出样本的更多细节。光从一种介质传播到另一种介质时的行为方式也与NA有关(称为“折射”)。本文还介绍了折射的简要历史,以及这一概念如何成为实现高NA的限制因素。
wechat
欢迎扫码关注徕卡官方微信,更多显微技巧,行业资讯尽在掌握
close