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LEICA EM TIC 3X三离子束研磨仪

您是否需要制备硬的,软的,多孔,热敏感,脆性和/或非均质多相复合型材料.获得高质量样品表面,以适宜于扫描电子 显微镜(SEM)分析和原子力显微镜(AFM)检测? Leica EM TIC 3X采用的宽场离子束研磨系统非常适合能谱分析EDS,波谱分析WDS, 俄歇分析Auger,背微射电子衍射分析EBSD。离子束研的技术适 用于多种多样材质样品,获得高质量切割截面或轴光平面的解决方 案。使用该技术对样品进行处理,样品受到形变或损伤的可能性低,可暴露出样品内部真实的结构信息。

徕卡EM TIC 3X可以灵活选择多种样品台,不仅适用于高通量实验,也适合于特定制样需求实验室。依据您具体需求,每一 台徕卡EM TIC 3X都可装配多种可切换样品台,如标准样品台,三 样品台,旋转样品台或冷冻样品台,应用于常规样品制备,商通量样品制备,以及某些高分子聚合物,橡胶或生物材料等温度敏感样品制备。其与徕卡EM VCT环境传输系统相连接,可以实现 将冷冻的生物样品表面受保护地被真空冷冻传输进入镀膜仪或冷冻扫描电镜ICryo-SEM)中,或者应用于地质或工业材料4羊品,实现其 空传输。

LEICA EM TIC 3X-产品设计与操控性能特点

  • 可获得高质量切割截面,区域尺寸可达4x1mm

  • 多样品台设计可一次运行容纳三个样品

  • 可容纳样品尺寸为50x50x10mm或38mm直径

  • 可简易精准地完成将样品安装到载台上以及调节与挡板相对位置的校准工作

  • 通过触摸屏进行简单操控,不需要特别的操作技巧

  • 样品处理过程可实时监控,可以通过体视镜或HD-TV摄像头观察

  • LED4分割照明,便于观察样品和位置校准

  • 内置式,解耦合设计的真空泵系统,提供一个无振动的观察视野

  • 可在制备好的平整的切割截面上可再进行衬度增强作用,即离子束刻蚀处理

  • 几乎适用于任何材质样品,使用冷冻样品台,挡板和样品温度可降至-160°C

  • 通过USB即可进行参数和程序的上传或下载

  • 一体化解决方案,大大节约用户的干预时间

人体工学设计,简单易用

徕卡EM TIC 3X配套的体视显微镜不仅用于样品定位校准和样品处理过程的观察。当把一个工作平板放在体视镜下方,体视镜又可作为手工处理样品时或者将样品粘牢到样品托上时的观察工具。因此,实验室不需要再添置额外的观察体系用于微小样品的手工操作。一体式触摸屏控制面板其杰出性能不仅因为操作直观,还因为带有指示和帮助信息,便于使用者掌握和使用。使用USB就可实现操作参数或报告的上传或下载。

高效

所谓真正的高效是一台离子束研磨仪既可以获得优秀高质量结果,又可高通量制样。除了徕卡的三离子束系统使样品制备结果得到优化并有效缩短工作时间,我们将离子束研磨速率提高至原来的2倍。一次运行可容纳三个样品。使用一款样品台就既可实现离子束切割又可离子束抛光。一体化解决方案确保样品被安全而高效地转移至后续制备设备或分析仪器中。

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