半导体、PCB和平板显示器缺陷分析
课程语言:中文
课程类型:免费课程,登录后可观看
讲者类型:徕卡内部员工讲师
内容领域:非医疗
发布日期:2022年07月 录制日期:2021年03月 观看量:1252
相关主题
半导体、PCB和平板显示器缺陷分析
在过去的几年中,事实证明在电子行业,尤其对印刷电路板 (PCB) 的检测、质量控制和保证 (QC/QA) 、晶圆制造(Wafer)、IC封装、失效分析 (FA)等等一些应用需求正逐步提升,微电子和电子学的革新使得对样品的观察要求,越来越精密,传统的双目显微镜也在不断面临挑战,更高的要求也随之而来。
本期网络课堂将从以下角度进行分析:
1.报道提缺陷分析
2.印刷电路板PCB缺陷分析
3.平板显示器FPD缺陷分析
相关产品
Leica DM8000 M工业显微镜
徕卡 DM8000 M 提供了全新的光学设计,如理想的 宏观检查模式 或者倾斜紫外光 (OUV, 随检UV 选择) 不但提高了分辨能力,同时也增加了观察 8’’/200 毫米直径大样品 时的产量。
徕卡DM12000M工业显微镜
徕卡DM12000M全新的光学设计,可以提供宏观模式快速初检,以及倾斜紫外光路功能(OUV, 倾斜紫外观察模式) 不单提升了分辨率还提高了检查12英寸(300毫米)硅片的产能。
最新的 LED 照明技术 一体化设计并整合在显微镜上. 低热辐射和机身内一体化技术确保了最理想的机身外空气流动状态。低能耗的节电设计大大延长了使用寿命,符合绿色环保的理念。
一键式的操控设计使用户可以轻易地完成倍率转换和相关的照明和相衬效果。
工业倒置显微镜 Leica DMi8 M / C / A
在竞争中保持领先是您事业前进的动力。无论您从事金相学、医疗设备制造还是微电子领域,速度都显得至关重要。您可根据自身需求定制徕卡这款高度模块化的倒置式显微镜。它将徕卡优异的光学品质、丰富的对比度模式以及直观易用的软件集于一身,有助于加速您的工作流程。
* 该内容属于该讲师在职期间以徕卡显微系统公司员工身份,在徕卡显微系统公司出资举办/承办/赞助的线上/线下会议上做出的知识分享;
* 徕卡显微系统公司对该内容拥有著作权等相关权力。任何组织或个人,未经徕卡显微系统公司书面授权,严禁转载相关内容;
* 本页面中的讲师介绍基于该知识分享课程制作时的信息。随着讲师个人职业发展,相关讲师履历可能会有变化;
* 本课程中对相关技术、产品的描述内容仅指课程录制时的状态。随着技术的进步、产品的选代,相关描述可能不再适用于当下。如有疑问,可咨询徕卡显微系统官方客服热线。