第3届半导体工艺及封装检测新技术

课程语言:中文
课程类型:免费课程,登录后可观看
讲者类型:徕卡内部员工讲师
内容领域:非医疗

发布日期:2024年05月 录制日期:2024年05月 观看量:149

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第3届半导体工艺及封装检测新技术

半导体工艺是当今世界中不可或缺的一项技术,它影响着我们生活的各个方面。从计算机到通信,从医疗到能源,几乎所有现代科技应用都依赖于半导体器件的存在。半导体工艺的重要性源于其能够制造出微小而精密的电子器件,这些器件能够在电子级别控制电流和信息流动。这种控制能力使得我们可以创造出计算速度极快的处理器、储存大量数据的芯片、实现高速通信的设备,甚至是探索未知领域的科学工具。

基于此,仪器信息网联合电子工业出版社于5月9-10日组织召开第三届“半导体工艺及封装检测新技术”主题网络研讨会。会议旨在邀请领域内专家围绕半导体产业常用的工艺与封装检测技术,从各种半导体制造工艺及封装检测技术等方面带来精彩报告,依托成熟的网络会议平台,为半导体产业从事研发、教学、生产的工作人员提供一个突破时间地域限制的免费学习、交流平台,让大家足不出户便能聆听到精彩的报告。


会议题目:徕卡光学显微镜在电子半导体的应用

王海银|工业显微镜应用工程师

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

光学检测技术在半导体行业应用广泛,基于高分辨率光学和软件图像处理技术可以对半导体生产工艺中的缺陷进行检测与分析。本课程将从针对徕卡光学显微镜方面,介绍徕卡光学显微镜在电子半导体缺陷检测中的应用。


会议题目:徕卡先进制样技术在电子半导体行业应用介绍

王露露

电镜制样产品应用工程师

徕卡显微系统(上海)贸易有限公司

主题是电子半导体的前处理的解决方案,徕卡先进制样技术在电子半导体行业应用介绍。


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