应用于材料科学研究的样品制备工作流程
通过 TEM、SEM、LM或 AFM表征材料样品时,样品制备是获得最佳结果的关键。要对样品进行 TEM观察时,需要制备非常薄的样品,而使用 LM、SEM和 AFM进行分析表征,则要求样品表面光滑。最大限度地减少制备过程中的人工痕迹,对提高研究分析的准确性至关重要。
本手册介绍了 Leica最常用的样品制备解决方案。我们的产品将帮助您获得TEM、LM、SEM和 AFM分析所需的结果。如果您有特殊要求或问题,我们的徕卡专家将随时为您提供帮助
目录
固态样品制备.........................................................07
聚合物样品制备.....................................................11
电子材料和半导体..................................................15
金属、陶瓷材料、硬质材料复合材料加工..............19
真空移....................................................................22
徕卡显微材料科学工作流程-满足您需求的产品组合